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双棱镜干涉实验
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发布时间:
2015/2/3 14:19:00 |
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电 话: |
86-010-84926858 |
传 真: |
86-010-84926858 |
手 机: |
18911627639 |
邮 编: |
100012 |
地 址: |
北京市朝阳区北苑路 |
网 址: |
http://beijingforce.cn.vooec.com |
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公司名称:北京方式科技有限责任公司 |
联 系 人:卜娜 女士 经理 |
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实验内容及相关科目: 调整光路,观察分波面干涉的干涉条纹,体会分波面的干涉原理和干涉理论。 测量干涉条纹的间隔,推算激光波长。
仪器特点: 采用半导体激光器(650nm、4mw)作为光源,功率稳定度优于1%。 用一维位移架+十二档光探头进行数据测量,更加客观精确、精度可达0.02mm 光学实验导轨为1200mm。
设备成套性: 光学实验导轨、半导体激光器、双棱镜、透镜、激光功率指示计、一维位移架+十二档光探头等。 技术指标 光学实验导轨1200mm。 半导体激光器650nm, 4mW。 透镜(带框)f-100mm,f=60mm,通光直径:38mm。 激光功率指示计:三位半数字表头,量程:200μW, 2mW, 20mW, 200mW,可调档。最小分辨率0.1u W。 大一维位移架+12档光探头:位移范围100mm,精度0.02mm,光栏直径:0.5、1、2、3、4、6mm。光栏宽度:0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。 一维可调导轨滑块:调制范围:10mm。
本产品网址:http://www.vooec.com/cpshow_70870431/ 手机版网址:http://m.vooec.com/product_70870431.html 产品名称:双棱镜干涉实验 |
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